[G] Microstructure control

[239] Evolution of microstructure and defects in sintering of tape-cast alumina laminates observed by synchrotron X-ray multiscale tomography

*Gaku OKUMA¹, Ryutaro USUKAWA², Toshio OSADA¹, Hideaki NAKAJIMA², Toshiya OKAZAKI², Kazuya SHIMODA¹, Hideki KAKISAWA¹, Fumihiro WAKAI¹ (1. National Institute for Materials Science, 2. National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)

Keywords:焼結、微構造、X線CT、欠陥

放射光X線CTとSEMを用いて、テープキャスティングで作製したアルミナ積層体の焼結における微細構造の進展を調査し、加工条件を最適化するための新たな知見を得ることを目的とする。