日本金属学会2024年春期(第174回)講演大会

講演情報

ポスターセッション

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[P] P19~P28

2024年3月12日(火) 14:00 〜 15:30 図書館棟3階ホワイエ

14:00 〜 15:30

[P28] Network tele-microscopy を利用した(Pt-Si アモルファス相)/SiOx 界面における電子励起誘起結晶化現象の研究

*山口 大智1、山本 航1、永瀬 丈嗣1、山下 満2、佐藤 和久3、西 竜治4、市川 聡3 (1. 兵庫県立大学、2. 兵庫県立工業技術センター、3. 大阪大学、4. 福井工業大学)

キーワード:電子顕微鏡、電子励起、アモルファス相、結晶化

Network tele-microscopy を利用した(Pt-Si アモルファス相)/SiOx 界面における電子励起誘起結晶化現象の研究について報告する

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