17:42 〜 17:45
[PEM28-P09] ジオスペース探査衛星ERG搭載用フラックスゲート磁力計の性能評価
ポスター講演3分口頭発表枠
2014年11月5日から8日にかけて行われた,次期ジオスペース探査衛星ERGに搭載されるフラックスゲート磁力計機器の性能評価試験の結果を報告する.
このフラックスゲート磁力計機器は,8000nTレンジの場合5nTの精度(0.03%)で,地球周辺の磁場を観測できることが求められる.その要求が満たされているかどうか評価するために,信号処理回路部のADCに~0から±3Vの連続的に変化する電圧を入力し,ディジタル値の出力と比較することによって,ADCにおける入出力値の線形性を調べた.また,信号処理回路部のADCへの入力電圧を~0から±3Vのうち0.15Vずつ変化させ,30秒間の出力ディジタル値を記録し,ADCにおけるノイズが入力電圧によってどのように変化するかノイズ特性を調べた.
フラックスゲート磁力計機器は,センサ部にフィードバック電流を与えることにより,外部磁場を測定することができる.このフィードバックによって,外部磁場への応答がどのくらいの時間遅れを伴うか,どのくらいの急激な磁場変動まで計測することができるか,把握することが重要になる.信号処理回路部のADCに既知の電圧(10Hz正弦波,±4000nT程度の磁場に相当する振幅)を入力し,出力ディジタル値と相互相関を取ることによって,時間遅れを導出した.
以上の性能評価試験の結果を報告する.
このフラックスゲート磁力計機器は,8000nTレンジの場合5nTの精度(0.03%)で,地球周辺の磁場を観測できることが求められる.その要求が満たされているかどうか評価するために,信号処理回路部のADCに~0から±3Vの連続的に変化する電圧を入力し,ディジタル値の出力と比較することによって,ADCにおける入出力値の線形性を調べた.また,信号処理回路部のADCへの入力電圧を~0から±3Vのうち0.15Vずつ変化させ,30秒間の出力ディジタル値を記録し,ADCにおけるノイズが入力電圧によってどのように変化するかノイズ特性を調べた.
フラックスゲート磁力計機器は,センサ部にフィードバック電流を与えることにより,外部磁場を測定することができる.このフィードバックによって,外部磁場への応答がどのくらいの時間遅れを伴うか,どのくらいの急激な磁場変動まで計測することができるか,把握することが重要になる.信号処理回路部のADCに既知の電圧(10Hz正弦波,±4000nT程度の磁場に相当する振幅)を入力し,出力ディジタル値と相互相関を取ることによって,時間遅れを導出した.
以上の性能評価試験の結果を報告する.