[MTT51-02] 放射光X線マイクロビームを用いたレアアースイオン吸着型鉱床の高エネルギーµ-XRF-XAFS分析 *長澤 真1、関澤 央輝2、新田 清文2、高橋 嘉夫1 (1.東京大学大学院理学系研究科地球惑星科学専攻、2.高輝度光科学研究センター)