日本地球惑星科学連合2021年大会

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株式会社東陽テクニカ

株式会社東陽テクニカ

 
ニュース
2021年5月28日、『小惑星探査機「はやぶさ 2」が持ち帰った 小惑星「リュウグウ」の試料初期分析プロジェクトに協力』に関するニュースリリースを行いました。
詳しくはこちらをご覧ください。

イラスト:木下 真一郎
 
◆TESCAN社製 電子顕微鏡・集束イオンビーム装置、X線顕微鏡
TESCAN社は1991年に設立されたチェコ共和国ブルノを拠点とした電子顕微鏡メーカです。プラズマFIB-SEM、ToF-SIMSを搭載したFIB-SEM、共焦点ラマン顕微鏡を融合したSEMなどさまざまな革新的技術を世界で初めて市場に導入したことでも知られ、現在では80カ国以上に3000台以上の納入台数を誇ります。最近ではX線顕微鏡をTESCAN社の製品ポートフォリオに加え、幅広くイメージング装置を提供しています。
 
◆注目製品① TESCAN AMBER X : 大容量での試料作製や3次元イメージングが可能なXeプラズマFIB-SEM
TESCAN AMBER X は、従来のGa FIB システムでは困難だった材料解析のために製品化されたプラズマFIB と超高分解能FE-SEM が一体となった分析システムです。
多種多様な材料について大面積の加工を高速で行うことが可能になるのに加え、マルチモーダルイメージングがフィールドフリーかつ高い空間分解能で実現します。また、Xe イオンの不活性な性質と相互作用領域の小ささにより、コンタミフリー・ダメージを抑えた微小試料作製が可能です。

TESCAN AMBER Xの外観


XeプラズマFIBにより、1mm幅で作製されたリチウムイオン電池電極の研磨断面のSEM像。作製時間は3.5時間。
 
◆注目製品② RISE : SEM-ラマン複合システム
SEM/FIB-SEM チャンバーに共焦点ラマン顕微鏡(CRM)の機構を取り付けることで、SEM からCRM への関心領域の移動、その逆方向についてもワンクリックで行うことができる複合システムです。スタンドアロンのSEM/FIB-SEM と共焦点ラマン顕微鏡のすべての特長や性能を生かしたまま一体化されており、同一箇所の高品質なSEM/EDSイメージングとラマンマッピングを迅速に行うことが可能です。


閃緑岩のEDS マッピング像(左)とSEM 像に重ね合わせたラマン像(中)とそのラマンスペクトル例(右)
 
◆注目製品③ TESCAN TIMA :  自動鉱物粒子解析SEM
自動鉱物粒子解析に特化した走査電子顕微鏡です。最大4つのEDS検出器が装着可能で、その同時取得により高速分析が実現します。ショットキーエミッター搭載の電子銃を採用しているため、微細な鉱物粒子の識別が高い空間分解能で可能です。専用の自動ソフトウエアにより、SEM観察とEDS分析が無人でできるだけでなく、粒子の分離や鉱物種の同定も自動で行うことができます。


(左)自動取得されたエクロジャイトの鉱物マップ
(右)粒子毎に鉱物相の同定とその随伴状態の分析を行い、鉱物種ごとに色分けした様子
 
◆注目製品④ TESCAN CoreTOM : コアサンプルを最大1m 長までフルにスキャン可能なX線マイクロCT
医療用CTの測定視野の広さとラボ用X線マイクロCTの空間分解能の双方を1台で両立したX線マイクロCTシステムです。地質調査で採取されるようなコアサンプルを最大1m長までフルにスキャンできるだけでなく、岩栓状もしくはドリル切削されたミリメートルサイズのサンプルを3μmの空間分解能でイメージング可能です。
高出力のマイクロフォーカスX線源の搭載により、高スループットの3次元イメージングが可能であるとともに、時間分解能10秒以下の高速ダイナミック3次元イメージングの用途にも対応します。


タービダイト・コアのマルチスケールイメージング
1m長のコア全体のスキャンから粒子解析可能な高解像スキャンまで、試料の切り出しをせずに可能 (サンプル提供:Ghent大学)
 
今後のイベントについて
オンラインセミナーのご案内
TESCAN社の電子顕微鏡・集束イオンビーム装置に関するオンラインセミナーを6月29日(火)と7月13日(火)に開催いたします。
セミナー内容や参加申込についてはこちらをご確認ください。

 
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