14:30 〜 14:45 [MZZ42-03] MCP/FS/qCMOS二次元イオン検出システムを用いた定量イメージングにおけるBlooming効果を考慮した分析精度の推定手法の開発 *吉元 史1、伊藤 正一1 (1.京都大学)