Jean De Dieu Byiringiro

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発表者・著者、共著者

2025年5月30日(金) 13:45 〜 15:15 展示場特設会場 (1) (幕張メッセ国際展示場 7・8ホール)

[E] 口頭発表
| セッション記号 U (ユニオン)
| ユニオン

[U-04] Geospatial Applications for Societal Benefits

14:00 〜 14:15

[U04-02] Application of Remote Sensing, Machine Learning, and Spectral Measurement for Coffee Leaf Rust Early Detection and Classification in Rwanda

*Jean De Dieu Byiringiro¹、Ahmad Shaqeer Mohamed Thaheer¹、Garid Zorigoo¹、Takahashi Yukihiro¹ (1.Hokkaido University)