スケジュール 2 08:45 〜 10:15 [2P-041] GC-MS向け新規オプションユニットの試作開発 ~規制物質等の迅速スクリーニングへの適応~ ○三島 有二1、藤井 麻樹子2、津越 敬寿3 (1. (株)神戸工業試験場、2. 横浜国立大学、3. 産業技術総合研究所) キーワード:イオン付着イオン化質量分析法、スクリーニング分析、分子量計測、RoHS 抄録パスワード認証抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証