一般ポスター/テクノレビューポスター－２

[2P-205] TOF-ICP-MSによる微粒子混合試料のノンターゲット分析：個々の未知粒子の元素組成解析と識別への応用

○高橋 隆子²、Schlatt Lukas¹、Shaw Phil¹ (1. Nu Instruments Ltd.、2. アメテック(株))

キーワード：TOF-ICP-MS、SP-ICP-MS、ノンターゲット分析、ナノ粒子の多元素分析