The 74th JSAP Autumn Meeting,2013

Exhibitors' information

[A-19] CORNES Technologies Ltd.

■マイクロ波プラズマCVD装置(Seki Diamond Systems) ■ロックインアンプ(Stanford Research Systems) ■残留ガスアナライザ(Stanford Research Systems) ■電子冷却式シリコンドラフトX線検出器(SGXsensortech) ■赤外線カメラ/赤外線サーモグラフィー(FLIR Systems) ■屈折率・膜厚測定装置(Metricon) ■熱拡散率測定装置(Bethel) ■窒化シリコン薄膜(Silson) ■クライオスタット/クライオジェニックシステム(ICEoxford)
  • Address

    105-0014
    東京都港区芝3-5-1 コーンズハウス

  • Tel

    03-5427-7568

  • Fax

    03-5427-7572

  • Web site, SNS

    http://www.cornestech.co.jp