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■真空低温プローバー ■Micro Mist精密塗布装置 ■H-Square社各種基板ハンドリングツール ■真空プローバー
■超精密位置決めピエゾステージ ■超音波モータステージ ■微小力センサ ■高周波差動トランス
■レーザーラマン顕微鏡RAMANtouch ■広視野ラマンスコープRAMANview
■高感度冷却CCDカメラ ■高感度2次元赤外カメラ ■イメージング分光器
■赤外用光学フィルター ■近赤外バンドパスフィルター ■紫外用光学フィルター・ミラー ■高性能光学薄膜フィルター
■S700X-R SQUID測定システム ■MiniCFM 無冷媒VSM測定システム ■9700 温度コントローラ ■SCM-10 温度モニタ ■Si-410 シリコンダイオードセンサ
■モンタナ・インスツルメント社 クライオステーション ■カンタム・デザイン社 MPMS3、PPMS DynaCool, EverCool Ⅱ ■ピコ・サーム社 NanoTR
1. 分光エリプソメーター GES5E (膜厚、光学特性測定) 2. 高感度DLTSシステム DLS-1000 (不純物濃度解析装置) 3. 高効率太陽電池開発開発用測定装置 PV-2000 (QSS-uPCD, 非接触CV測定、電界効果パッシベーション評価) 4. ライフタイム測定装置 WT-2000 (LBIC, 非接触シート抵抗測定、非接触比抵抗測定) 5. ロールツーロール測定装置...
■卓上走査電子顕微鏡 ■電子ビーム描画装置
■ファイバーレーザー ■CWレーザー ■パルスレーザー(UV) ■ピコ秒レーザー ■シングルフォトンカウティング ■バイオイメージング ■ナノイメージング
■温度安定型半導体レーザ ■グリーン振動計 ■輝度均一ライン光源 ■単一縦モード全固定グリーンレーザ ■新固体レーザ発表予定
■示差走査熱量計 DSC ■熱拡散率測定装置 LFA
■ワイヤーボンダー ■ダイボンダー ■マニュアルプローバー ■RTP装置 ■ 4深針プローバー
■原子層堆積装置 ■PLD及びレーザー源
■膜厚測定器
■レーザーMBE成膜装置及び各種成膜装置 ■TOFLAS3000表面分析装置 ■クライオスタット冷凍機及び関連商品
■ORCA Flash4.0 ■マイクロPMTアッセンブリ ■MPPCモジュール
■デスクトップ型NC微細加工機 MC-1