[16a-A13-1~10] 7.2 電子顕微鏡．評価．測定．分析

[16a-A13-10] セシウム含有自然起源試料のSIMS分析

^○坂本哲夫¹，大石乾詞¹，長嶋悟²，川上勇³，奥村丈夫⁴ (工学院大工¹，トヤマ²，阿藤工務店³，日本中性子光学⁴)

キーワード：二次イオン質量分析法,セシウム