[16p-C14-1~8] 最先端電子顕微鏡計測技術の最近の展開と共用化（関連大分類：7）

[16p-C14-5] 原子分解能STEMによる材料界面・微構造の解析（30分）

^○藤平哲也¹，柴田直哉¹，溝口照康¹，幾原雄一^1,2 (東大工¹，JFCC²)

キーワード：走査透過型電子顕微鏡,粒界・界面,ドーパント