2013年第74回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

01.応用物理学一般 » 1.7 計測技術

[17a-P6-1~11] 1.7 計測技術

2013年9月17日(火) 09:30 〜 11:30 P6 (デイヴィス記念館 )

09:30 〜 11:30

[17a-P6-11] 薄膜ヤング率の温度依存性(2)ー各種光学薄膜の測定ー

塚本雄二 (足利)

キーワード:薄膜,ヤング率