[17p-B3-1~17] 15.6 IV族系化合物

[17p-B3-17] Si(110)基板上回転エピ膜上に形成したエピタキシャルグラフェンの断面TEM評価

^○（M2）三本菅正太¹，長澤弘幸¹，セルゲイ フィリモノフ²，伊藤駿³，吹留博一¹，末光眞希^1,4 (東北大学通研¹，トモスク州立大²，東北大金研³，JST/CREST⁴)

キーワード：グラフェン,炭化ケイ素,透過電子顕微鏡