2013年第74回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

印刷

一般セッション(ポスター講演)

12．有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[17p-P3-1~10] 12.2 評価・基礎物性

2013年9月17日(火) 13:30 〜 15:30 P3 (デイヴィス記念館 )

13:30 〜 15:30

[17p-P3-9] 電流DLTS法による劣化ホールオンリー素子のトラップ観測

○内藤秀成1，徳田豊1，舘鋼次郎2，加藤哲弥2，片山雅之2 (愛知工大1，デンソー2)

キーワード：DLTS,有機EL,Hole Only Device