[18a-A12-1~11] 2.3 放射線応用・発生装置・新技術

[18a-A12-9] 後方散乱X線断層撮像による片側からの非破壊検査技術の開発

^○吉田迅，山﨑淳，渡辺賢一，瓜谷章 (名大工)

キーワード：X線,後方散乱,断層撮像