[18a-C4-1~15] 12.8 有機EL

[18a-C4-5] X線反射率測定による非晶質有機半導体蒸着膜の質量密度分析と充填係数評価

^○柴田真希¹，鈴木早紀²，村岡宏樹³，小川智³，横山大輔^1,2,4 (山形大院理工¹，山形大工²，岩手大工³，山形大有機エレクトロニクス研究センター⁴)

キーワード：密度,X線反射率,有機EL