[18a-P3-1~8] 6.6 プローブ顕微鏡

[18a-P3-7] MoS₂基板上フラーレン超薄膜のFM-KFM表面電位測定

^○野田晃浩¹，小林圭^1,2，山田啓文¹ (京大院工¹，京大白眉セ²)

キーワード：ケルビンプローブフォース顕微鏡,FM-KFM