2013年第74回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

02.放射線 » 2.1 放射線物理一般・検出器基礎

[18p-A12-1~17] 2.1 放射線物理一般・検出器基礎

2013年9月18日(水) 13:30 〜 18:00 A12 (TC1 3F-316)

14:00 〜 14:15

[18p-A12-3] γ線照射による厚いシリコン酸化膜の閾値電圧変化

吉沢勝美1,大塚正志1,秋山周哲1,石井邦尚1,相澤淳1,渡辺温2,中田智成2,持木幸一3 (パイオニアマイクロテクノロジー1,パイオニア2,東京都市大3)

キーワード:放射線耐性,撮像素子