[19a-C7-1~15] 6.4 薄膜新材料

[19a-C7-10] 細線状のBi₂Se₃における伝導度揺らぎの研究

^○松尾貞茂¹，知田健作¹，千葉大地¹，小野輝男¹，Keith Slevin²，小林研介²，大槻東巳³，Cui-Zu Chang⁴，Ke He⁴，Xu-Cun Ma⁴，Qi-Kun Xue⁴ (京大化研¹，阪大理²，上智大理³，Chinese Academy of Science⁴)

キーワード：伝導度揺らぎ,トポロジカル絶縁体