2013年第74回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

06.薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[19p-D2-1~15] 6.6 プローブ顕微鏡

2013年9月19日(木) 14:30 〜 18:30 D2 (MK 1F-102)

14:30 〜 14:45

[19p-D2-1] 帯電試料による走査型イオン伝導顕微鏡イメージングへの影響

石崎公大1,牛木辰男2,中島真人2,岩田太1 (静岡大工1,新潟大医2)

キーワード:走査型イオン伝導顕微鏡