2013年第74回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

06.薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[19p-D2-1~15] 6.6 プローブ顕微鏡

2013年9月19日(木) 14:30 〜 18:30 D2 (MK 1F-102)

17:00 〜 17:15

[19p-D2-10] 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたSi(111)-(7×7) 表面における表面電位のサイト依存性測定

山末耕平1,阿部真之2,杉本宜昭3,長康雄1 (東北大通研1,名大工2,阪大工3)

キーワード:走査型非線形誘電率顕微鏡,SNDM,Si