[20p-C11-1~7] 9.3 ナノエレクトロニクス

△ [20p-C11-5] エレクトロマイグレーションによるAu細線破断過程のTEMその場観察

^○村上暢介，越智隼人，浜田弘一，有田正志，髙橋庸夫 (北大院情報)

キーワード：エレクトロマイグレーション,透過型電子顕微鏡,その場観察