2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

07.ビーム応用 » 7.6 イオンビーム一般

[29p-B2-1~18] 7.6 イオンビーム一般

2013年3月29日(金) 13:30 〜 18:15 B2 (K2号館 3F-1302)

[29p-B2-4] イオン液体ビーム源を用いた飛行時間二次イオン質量分析(TOF-SIMS) (2:15 PM ~ 2:30 PM)

藤原幸雄,齋藤直昭,野中秀彦,一村信吾 (産総研)

キーワード:イオン液体、エレクトロスプレー、二次イオン質量分析