2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

15.結晶工学 » 15.8 結晶評価,ナノ不純物・結晶欠陥

[29p-G16-1~21] 15.8 結晶評価,ナノ不純物・結晶欠陥

2013年3月29日(金) 13:30 〜 19:15 G16 (B5号館 3F-2304)

[29p-G16-14] Siウェーハの曲げ強度に対する表層酸素濃度の影響 (5:00 PM ~ 5:15 PM)

須藤治生1,青木竜彦1,荒木浩司1,日高洋美1,荒木延恵1,泉妻宏治1,中村芳明2,酒井朗2 (グローバルウェーハズ・ジャパン1,阪大2)

キーワード:Siウェーハ、曲げ強度、酸素濃度