2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

15.結晶工学 » 15.8 結晶評価,ナノ不純物・結晶欠陥

[29p-G16-1~21] 15.8 結晶評価,ナノ不純物・結晶欠陥

2013年3月29日(金) 13:30 〜 19:15 G16 (B5号館 3F-2304)

[29p-G16-7] シリコン結晶の高感度赤外吸収と赤外欠陥動力学
(5)C-rich結晶の照射と熱処理の定量的解析 (3:15 PM ~ 3:30 PM)

井上直久1,後藤安則2,関洋文3,渡邉香4,河村裕一5 (東京農工大工1,トヨタ自動車2,東レリサーチ3,システムズ・エンジニアリング4,大阪府立大産学官5)

キーワード:シリコン、粒子線照射、赤外吸収