2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

07.ビーム応用 » 7.2 電子顕微鏡,評価,測定,分析

[30a-B1-1~10] 7.2 電子顕微鏡,評価,測定,分析

2013年3月30日(土) 09:00 〜 11:45 B1 (K2号館 3F-1301)

[30a-B1-9] 電子ビーム照射を受けた絶縁体薄膜の放電特性 (11:15 AM ~ 11:30 AM)

○(B)熊谷健太朗,大谷優,小原康寛,小寺正敏 (大工大)

キーワード:電子ビーム