PDF ダウンロード スケジュール 17 いいね! 0 14:45 〜 15:00 [17p-A17-4] 4H-SiCエピ膜の表面欠陥とゲート酸化膜信頼性 ○石山修1,3,山田敬一1,4,先崎純寿1,2,北畠真1,3 (FUPET1,産総研2,パナソニック3,東レリサーチセンター4) キーワード:4H-SiC