[17p-A8-1~17] 6.2 カーボン系薄膜

[17p-A8-2] ダイヤモンドp+(100)基板のX線トポグラフィー評価

^○大曲新矢，加藤有香子，梅沢仁，鹿田真一 (産総研ダイヤモンド)

キーワード：ダイヤモンド,X線トポグラフィー,欠陥