[17p-C1-1~15] 3.12 ナノ領域光科学・近接場光学

[17p-C1-14] 放射光STMによる金属界面のナノスケール元素分析 ―元素コントラストとトンネルスペクトルの比較―

^○古館侑大^1,2，齋藤彰^1,2，楠井雄太^1,2，齊戸智之^1,2，田中義人²，玉作賢治²，香村芳樹²，赤井恵¹，石川哲也²，青野正和³，桑原裕司^1,2 (阪大院工¹，理研/SPring-8²，物材機構³)

キーワード：X線,STM,元素識別