09:30 〜 09:45
△ [18a-A22-3] 界面顕微光応答法を用いたn-GaNショットキー接触の２次元評価 --表面構造の影響--
キーワード：GaN,ショットキー接触,二次元評価
講演情報
一般セッション(口頭講演)
14．半導体B（探索的材料・物性・デバイス） » 14.3 電子デバイス・プロセス技術
[18a-A22-1~12] 14.3 電子デバイス・プロセス技術
2014年9月18日(木) 09:00 〜 12:15 A22 (E314)
一般セッション(口頭講演)
14．半導体B（探索的材料・物性・デバイス） » 14.3 電子デバイス・プロセス技術
2014年9月18日(木) 09:00 〜 12:15 A22 (E314)
09:30 〜 09:45
キーワード：GaN,ショットキー接触,二次元評価