2014年第75回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.1 基礎物性・表面界面現象・シミュレーション

[19a-A15-1~9] 13.1 基礎物性・表面界面現象・シミュレーション

2014年9月19日(金) 09:30 〜 12:00 A15 (E306)

10:15 〜 10:30

[19a-A15-4] 表面処理が高抵抗CZ-Siウェーハのライフタイム測定に与える影響

荒木延恵,日髙洋美,宮下守也 (グローバルウェーハズ・ジャパン)

キーワード:Si,Lifetime,超純水