[19p-A12-1~16] 合同セッションＫ ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス

[19p-A12-13] Snドープおよびノンドープα-(Al_1-xGa_x)₂O₃薄膜のXPS測定

^○鈴木健太，金子健太郎，伊藤義人，赤岩和明，藤田静雄 (京大院工)

キーワード：酸化ガリウム