2014年第75回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.1 基礎物性・表面界面現象・シミュレーション

[19p-A15-1~12] 13.1 基礎物性・表面界面現象・シミュレーション

2014年9月19日(金) 13:30 〜 16:45 A15 (E306)

15:30 〜 15:45

[19p-A15-8] 酸化膜トラップ電荷によるSiナノワイヤトランジスタの電流ばらつきの統計的解析

鈴木晃人1,神岡武文2,鎌倉良成3,渡邉孝信1 (早大理工1,豊田工大2,阪大院工3)

キーワード:EMC/MD,RTN,RDF