2014年第75回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.2 絶縁膜技術

[19p-A17-1~11] 13.2 絶縁膜技術

2014年9月19日(金) 14:00 〜 17:00 A17 (E308)

14:15 〜 14:30

[19p-A17-2] 窒素プラズマ処理を施したAl2O3/GaSb MOS構造の特性評価

○(M2)後藤高寛1,2,藤川紗千恵1,藤代博記1,小倉睦郎2,安田哲二2,前田辰郎1,2 (東京理科大院1,産総研2)

キーワード:GaSb,MOS,窒化