2014年第75回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

06.薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[19p-A8-1~19] 6.6 プローブ顕微鏡

2014年9月19日(金) 13:45 〜 19:00 A8 (E207)

16:15 〜 16:30

[19p-A8-10] 非接触原子間力顕微鏡/力分光法による微量NH3を反応させたSi(111)-7×7表面電子状態解析

○(M2)坂野友樹1,富取正彦2,新井豊子1 (金沢大院1,北陸先端大院2)

キーワード:原子間力顕微鏡,Si(111)