2014年第75回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15.結晶工学 » 15.8 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[20a-A20-1~15] 15.8 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2014年9月20日(土) 09:00 〜 13:00 A20 (E312)

12:45 〜 13:00

[20a-A20-15] Siウェーハの曲げ強度に対する表層窒素濃度の影響

須藤治生1,荒木浩司1,日高洋美1,荒木延恵1,竹内正太郎2,中村芳明2,酒井朗2,泉妻宏治1 (グローバルウェーハズ・ジャパン1,阪大2)

キーワード:シリコンウェーハ,窒素,強度