TBD

■レーザーアブレーションシステム

■原子間力顕微鏡 ■バックスキャッタ（後方散乱）型X線非破壊検査装置

■電子冷却PIXIS検出器 ■無収差分光器IsoPlane

■各種半導体ウェハーの研磨委託加工

■低温プローバ ■無冷媒VTI付クライオスタット ■温度コントローラ ■温度センサ

■モンタナ・インスツルメント社製「クライオステーション」 ■リンシーテック社製「デジタル・ホログラフィック顕微鏡」 ■カンタム・デザイン社製「無冷媒型物理特性測定装置 PPMS DynaCool」「磁気特性測定装置 MPMS3」 ■エヌティー・エムディーティー社製「AFMラマンシステム」

■ソリッドステート型マイクロ波電源　等

■分光エリプソメーター ■DLTSシステム ■ライフタイム測定装置

■卓上走査電子顕微鏡

■生体分子間相互作用解析装置(QCM センサー）

■インテンシファイア付 超高速CCDカメラ ■３Dプリンタ

■レーザラマン分光光度計 ■フーリエ変換赤外分光光度計

■レーザー発振器、および周辺機器

■長さ計測用光コム ■シアン化水素安定化半導体レーザ ■LD励起深紫外固体レーザ ■各種半導体レーザ

■完全非接触原子間力顕微鏡

■ワイヤーボンダー ■ダイボンダー ■プローバー ■高温電気炉 ■ＲＴＰ ■研磨機 ■プラズマクリーナー ■薄膜蒸着

■原子層堆積装置

■ファイファーバキューム社製　ターボ分子ポンプ、真空計　他■センテック社製　光学式膜厚計　他

■表面分析装置 ■PLD／Laser MBEシステム ■極低温冷凍機システム ■真空コンポーネント