[19a-PG5-1~8] 15.8 結晶評価，不純物，結晶欠陥

2014年3月19日(水) 09:30 〜 11:30 PG5 (G棟2階)

△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄：どちらもなし

09:30 〜 11:30

[19a-PG5-1] ミラー電子顕微鏡による4H-SiC基板中に存在するダメージ層の観察

^○佐々木雅之¹，田村謙太郎¹，北畠真¹，松畑洋文²，児島一聡² (技術研究組合次世代パワーエレクトロニクス研究開発機構¹，産総研²)

09:30 〜 11:30

^○高橋由美子¹，平野馨一¹，吉村順一¹，長町信治²，古室昌徳¹ (KEK-PF¹，長町サイエンスラボ²)

09:30 〜 11:30

^○須和亮，末岡浩治，神山栄治 (岡山県大院情報工)

09:30 〜 11:30

^○川本光太¹，永井哲也²，野網健吾²，中居克彦²，二木登史郎²，山本秀和¹ (千葉工大工¹，日鉄住金テクノロジー²)

09:30 〜 11:30

^○安藤将吾，鈴木翔太，山本秀和 (千葉工大工)

09:30 〜 11:30

^○白取美帆¹，永井哲也²，野網健吾²，中居克彦²，二木登史郎²，山本秀和¹ (千葉工大工¹，日鉄住金テクノロジー²)

09:30 〜 11:30

^○冨永誠¹，石橋勇弥¹，小野修一²，新井学²，山本秀和¹ (千葉工大工¹，新日本無線²)

09:30 〜 11:30

^○乙川光平¹，荻野禎之¹，石川和彦¹，田中真人²，城始勇³，逢坂哲彌¹，朝日透¹ (早大¹，産総研²，早大科健機構³)