[17a-E4-1~9] 3.4 計測光学

△ [17a-E4-2] 偏光カメラを用いた2次元複屈折計測

^○柴田秀平，大沼隼志，大谷幸利 (宇都宮大)

キーワード：複屈折測定,偏光カメラ,ストークス・パラメータ