[17p-D4-1~13] 11.5 接合，回路作製プロセスおよびデジタル応用

△ [17p-D4-7] 外部クロックを用いたSFQ時間測定回路の冷凍機内における動作実証

^○佐野京佑¹，村松祐希¹，山梨裕希¹，吉川信行¹，全伸幸²，大久保雅隆² (横浜国大¹，産総研²)

キーワード：SFQ,質量分析,TDC