[17p-F5-1~15] 7.7 微小電子源

[17p-F5-1] 走査プローブ顕微鏡を用いた電子源先端構造評価

^○渡邉騎通，田中深幸，清水哲夫 (産総研ナノシステム)

キーワード：電子源,走査プローブ顕微鏡