[18a-D2-1~9] 15.2 II-VI族結晶

△ [18a-D2-2] 広域逆格子マップ測定によるc面サファイア基板上ZnTe薄膜の評価

^○相場貴之¹，中須大蔵¹，山下聡太郎¹，孫惟哲¹，田栗光祐¹，服部翔太¹，風見蕗乃¹，小林正和^1,2，都甲浩芳³，朝日聡明⁴ (早大先進理工¹，早大材研²，NTT³，JX金属⁴)

キーワード：広域逆格子マップ,ZnTe,sapphire