2014年第61回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

07.ビーム応用 » 7.2 電子顕微鏡,評価,測定,分析

[18a-F5-1~11] 7.2 電子顕微鏡,評価,測定,分析

2014年3月18日(火) 09:00 〜 12:00 F5 (F305)

11:30 〜 11:45

[18a-F5-10] TOF-SIMSを用いた粘土鉱物への安定Cs吸着状態の可視化

北澤英明1,新海尋2,河野健一郎1,武田良彦1,岩井秀夫1,田巻明2,藤田大介1,山田裕久1 (物材機構1,東京電機大工2)

キーワード:SIMS,Cs,除染