2014年第61回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.1 基礎物性・表面界面現象・シミュレーション

[19a-D9-1~13] 13.1 基礎物性・表面界面現象・シミュレーション

2014年3月19日(水) 09:00 〜 12:30 D9 (D315)

12:15 〜 12:30

[19a-D9-13] Siナノワイヤ及び極薄SOIにおけるUVラマンスペクトルのサイズ効果

多田哲也1,ポボロッチウラジミール1,森田行則2,ゲシェフパベル3 (産総研-NeRI1,GNC-産総研2,ロシア熱物理学研究所3)

キーワード:ラマン散乱,界面散乱,サイズ効果