11:45 〜 12:00
[19a-F6-4] 誘導結合Cl2プラズマSiエッチングにおける表面ラフネスの解析
キーワード:Si etching,Inductively coupled Cl2 plasma,Surface roughness
一般セッション(口頭講演)
08.プラズマエレクトロニクス » 8.4 プラズマエッチング
2014年3月19日(水) 11:00 〜 12:30 F6 (F306)
11:45 〜 12:00
キーワード:Si etching,Inductively coupled Cl2 plasma,Surface roughness