2014年第61回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

16.非晶質・微結晶 » 16.1 基礎物性・評価

[19p-D2-1~11] 16.1 基礎物性・評価

2014年3月19日(水) 14:00 〜 17:15 D2 (D113)

15:00 〜 15:15

[19p-D2-4] ラマン分光法による多結晶シリコン薄膜の結晶性分布評価

安川裕政1,富田基裕1,小瀬村大亮1,山崎英之2,富田充裕2,臼田宏治2,小椋厚志1 (明大理工1,東芝2)

キーワード:ラマン分光法,多結晶Si