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一般セッション(口頭講演)

14．半導体B（探索的材料・物性・デバイス） » 14.1 探索的材料物性

[19p-D3-1~14] 14.1 探索的材料物性

2014年3月19日(水) 14:00 〜 17:45 D3 (D114)

14:15 〜 14:30

[19p-D3-2] 反射率測定によるK₈Ga₈Si₃₈クラスレートのバンド構造評価

^○飯岡優¹，鵜殿治彦¹，今井基晴²，青木正人³ (茨城大¹，物材機構²，岐阜大³)

キーワード：クラスレート