2014年第61回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

02.放射線 » 2.1 放射線物理一般・検出器基礎

[19p-F1-1~16] 2.1 放射線物理一般・検出器基礎

2014年3月19日(水) 14:00 〜 18:30 F1 (F201)

18:15 〜 18:30

[19p-F1-16] γ線照射による厚いシリコン酸化膜の閾値電圧変化Ⅱ

吉沢勝美1,秋山周哲1,相澤淳1,石井邦1,大塚正志2,中田智成2,渡辺温2,持木幸一3 (パイオニアマイクロテクノロジー1,パイオニア2,東京都市大3)

キーワード:放射線耐性,シリコン酸化膜,閾値電圧変化